半导体膜厚测试仪-OPTM 测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）

LMI系列成像亮度计成像亮度计的分辨率从200万像素到2000万像素可选，可满足不同发光样品的测试要求。 多次曝光和ND中性滤光片的应用，可实现1000000：1的高对比度； 用户可通过ROI功能获取局部图像的数据信息，排除非目标区域的干扰。

CMI系列成像亮度色度计的像素分辨率从200万像素至3600万像素可选，可满足不同应用的测试需要。

蓝菲光学VCSEL光学测试方案使用*的Spectralon 、Permaflect或Spectraflect积分球对器件发光进行收集。该材料对紫外-可见-红外范围内的光都具有*的光谱反射率，可分别满足研发端和产线段对高低温度测试和产线端设备免维护性的要求。此外，通过选择不同尺寸的积分球，可以满足从毫瓦到千瓦量级的激光功率测试。

科技农场中光照光谱技术、环控与植物的生长息息相关。 优先掌握植物生长脉络就能提前实现全天候高效生长契机。 PG200N植物照明光谱检测仪突破传统光量子计聚焦于光源分析，以使用者体验为出发点扩充软硬体功能

OLED显示模组寿命测试系统 平铺式模组寿命可搭载亮度计直接量测发光膜组的真实数值，在研发和过程数据评判工作中，可起到重要作用。

便携式光谱照度计MK350S Premium特点 • 符合JIS A*& DIN B级 照度计需求 ； • 自动暗校正-确保每次量测质量具有稳定信度&精准 ； • 量测动态范围更宽，速度更快，更精准 ； • 新增频闪风险评级图-IEEE 1789 & Energy Star，图解频闪落点系数为何； • 蓝光危害评估指数-客观准确地评估LED灯具浅在的蓝光风险值，将人眼伤害降到低；

便携式光谱照度计/光度计MK350N Premium​是一款结合高科技、工业设计于一身的专业分光光谱计。除Lux 范围扩增至100k lux 外，量测速度缩短3s 内，光源量测参数高达40 种选项，供用户客制量测清单

频闪测试仪LabFlicker 仪器和你电脑上的Viso 灯光检查软件构成了一个便携而精确的闪烁测量解决方案。所有相关的频闪图表和指数——包括SVM（频闪可视参数）和PstLM（短时间闪变值）——都会显示出来。原始的频闪数据可以下载下来进行更多深入性的研究。

太阳光谱辐射度计SolarRad它具备对太阳光谱300-1100nm波长范围的的特性测量（200-1700nm可选）。系统的核心部分是StellarNet的BLACK-Comet紫外增强凹面光栅光谱仪。

Stellar-RAD手持式光谱辐射度计是一款研究等级的光谱仪，无需额外的设备，简单操作即可用于光测量。这款溯源于NIST的系统可用于测量光谱辐照度和照度，相关色温（CCT），xy色度，PAR等。

蓝菲光学LFFM-20高速频闪测试仪根据当今上测试标准而进行设计，采用高速功率计对光信号进行采样，通过全新的软件进行数据分析和处理，能够满足研发到生产，不同类型的测试需求。