光谱式亮度计可以准确、简易测量显示面板光源亮度及色度值。关键参数包含亮度，CIE xy，Yxy，u'/ v'，GAMMA校正，白平衡调整等。整体量测速度快，精度高，能满足智能手机、电视机、微型显示器、AR / VR(扩增实境/虚拟实境)装置、智慧穿戴装置等新型设备对各种光源测量需求，如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。

PR-655便携式分光辐射亮度计通过2.25” x 3”高分辨率全彩触摸屏和五个方向键的键盘控制。测量结束后，PR-655会在它的液晶屏上显示数据、彩色光谱和CIE图。PR-655提供了单机式操作- 不需要PC。PR655也可通过著名的SpectraWin操作软件通过USB或蓝牙接口控制，或使用文本命令控制（远程模式）

光谱式亮度计容易实现与外界通讯，它配备有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加仪器在恶劣环境中的使用安全。针对产线测试环境的不同（如工作距离、测试区域和系统控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光阑、镜头的定制（满足更多的亮度测试动态范围以及不同工作距离、光斑尺寸的测试需求），易于开发的SDK包可根据不同用户的ATE系统进行定制等。

成像亮度色度计可测量LED/LCD等各类显示器及在一定频率下发光的发光体；亮度，色温，色差，照度，辐射度，显色指数，色差等参数；与稳流电源配合,更可测量OLED等的电学特性，全彩触摸屏显示器。

此款设备具备了照度连续可调、高低色温连续可调的功能，高均匀性避免了定位带来的误差。

PT-038-PLS 是一款可以提供均匀稳定亮度的积分球标准光源，可用于显示屏企业、质检及计量机构、科研院所对亮度计的校正、作实验用标准源等，具有亮度均匀性好、亮度调节范围大、稳定度高、便携等优点。

Spectra-UT 超光谱校准光源提供光谱匹配分辨率。

简单均匀的亮度和辐射度光源，用于成像和非成像设备的测试和校准

高均匀的光谱辐射光源，可精确再现几乎所有从390 nm到1000 nm的光谱

LED 面板光源是一款可用于相机模组或传感器产线校准的光源模拟器。

半导体膜厚测试仪-OPTM 测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）

LMI系列成像亮度计_光谱光度/色度/辐射度计配备一个接近人眼视觉函数的Y滤光片，保证了数据的准确性。LMI-200具备全分辨率下高达100FPS读出速度，非常适合高精度高速测量应用。LMI-1600具有高帧率特性，搭载了128M DDR缓冲内存，即使低配置的运行环境下也可快速读出。LMI-2000具有2.4m的超高分辨率，采用背照式传感器，读出噪声低至一个电子。