Moxtek 原厂成长纪实，小型 X 光管由先锋科技中国经销

1986年，Moxtek的成立，始于一次合作，并取得了令人兴奋的首项突破——Moxtek的超薄聚合物X射线窗口。Moxtek与合作伙伴一起，不断突破投影、成像和光学领域的性能极限，一路彻*革新了相关技术。自此，Moxtek已成为显示电子、成像及分析仪器领域先进纳米光学与X射线组件的领*供应商。主要产品包括小型X射线管，SiPIN探测器，铍窗，线栅式偏振片，以及像素偏振片等。Moxtek的公司历程1986年–Moxtek成立1991年–AP1.3超薄聚合物X射线窗口发布1995...

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Teledyne Judson 与先锋科技铟镓砷探测器合作历程

TeledyneJudsonTechnologies总部位于宾夕法尼亚州北部郊区，设计并制造用于军事、航天、工业及科学应用的高性能红外探测器和传感器子系统。Judson的产品包括基于碲镉汞（HgCdTe）、锑化铟（InSb）和铟镓砷（InGaAs）探测器材料的红外探测器、阵列及传感器子系统。TeledyneJudsonTechnologyies公司的前身为JudsonInfrared,Inc，成立于1969年。公司成立之初，就致力于开发和制造高性能红外探测器，覆盖近红外到远红...

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如何校正辐射亮度计的光谱响应误差？

辐射亮度计是光学辐射测量领域的核心仪器，其测量精度直接受到自身光谱响应特性与理想匹配函数之间偏差的影响。光谱响应误差的存在会导致测量结果偏离真实值，因此必须通过系统化的校正方法加以消除或抑制。校正光谱响应误差的首要步骤是准确获取仪器的相对光谱响应函数。这一过程需要采用可溯源至标准光源的光谱辐射源，在仪器的整个工作波段内逐波长测定其响应输出。通过比对已知光谱辐射亮度与仪器实测值，可以计算出各波长位置上的响应偏差系数，从而构建完整的相对光谱响应曲线。在获得仪器实际光谱响应函数之后...

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深耕微弱光探测领域｜ET 发展史与 PMT 光电倍增管（先锋科技代理）

ETEnterprises尽管是一家新公司，但其历史可追溯至20世纪30年代。当时作为EMI的一部分，它首*涉足光探测技术，公司开发了用于首*电子高清电视系统的光传感技术。20世纪40年代末，公司开始专注于光电倍增管的研发与制造，并持续发展，成为国*领*的微弱光探测器件与系统供应商。20世纪90年代，ElectronTubesLtd.成立。模块化光子计数系统被纳入光电倍增管产品线。2007年，LudlumMeasurements,Inc.收购了ElectronTubesLtd...

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亚纳米精度之路：为何表面行为决定半导体与计量系统的性能极限？

在先进半导体制造与精密计量领域，我们习惯于将目光聚焦在光学系统、运动控制、算法补偿等核心技术上。然而，当制程节点向3nm及以下演进，当套刻精度要求进入亚纳米时代，一个长期被低估的因素开始浮出水面——表面行为。杂散光、热漂移、分子污染、静电放电……这些来自“非光学表面”的干扰，正成为限制良率和测量精度的隐形瓶颈。Acktar全无机超薄黑色涂层，正是为解决这些深层挑战而生。挑战一：杂散光——光学检测中的“幽灵”在晶圆检测、CD-SEM、套刻计量等工具中，任何未被吸收的杂散光都会通...

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