1 秒极速无损测量！膜厚测试仪适配晶圆 Mapping 批量扫描检测

半导体产业精密制造进程中，薄膜厚度、光学常数直接决定晶圆、光刻胶、介质层等产品良率，非接触、高速、多材料兼容的膜厚检测设备，是产线品控与实验室研发的刚需设备。日本大塚电子深耕光学检测领域多年，推出的OPTM半导体膜厚测试仪，依托成熟分光干涉检测方案，成为半导体、MiniLED、光学薄膜行业的常用检测设备，国内可通过TEO先锋泰坦一站式采购、获取全套技术支持。OPTM半导体膜厚测试仪以显微分光法测量绝对反射率为核心原理，无需接触样品即可完成无损检测，可同步解析多层膜厚度、折射率...

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超高帧率大容量存储！高速相机实现长时间连续高速图像采集

在燃烧流场观测、流体PIV、材料冲击、动态DIC等瞬态实验场景中，普通成像设备难以捕捉毫秒甚至微秒级的高速变化过程，而美国VisionResearch旗下Phantom系列高速相机，凭借成熟CMOS成像技术，成为国内高校、科研院所与工业研发实验室的主流选择，北京先锋泰坦科技有限公司（简称：TEO先锋泰坦）作为该系列产品国内合作服务商，可提供完整设备选型、技术配套与售后保障服务。一、TEO先锋泰坦代理的美国VisionResearchPhantom高速相机，适配多领域瞬态测量需...

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光束质量分析仪具有宽泛适配能力

光束质量分析仪是激光领域用于表征光束空间特性、模式分布及传输特性的核心检测设备，贯穿激光研发、生产、应用全链条，其性能直接影响激光系统的优化效率与应用效果。光束质量分析仪的核心硬件构成模块：1.光束采集单元：负责将待测光束引导至探测区域，通常分为透射式、反射式两类结构，部分高功率型号会配套可调节光衰减模块，避免高能量光束损伤后续探测元件，同时可适配不同入射角度、不同光束直径的测试需求。2.光电探测单元：是光束信息转换的核心，主流采用面阵CCD/CMOS传感器、光电二极管阵列、...

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800 万像素制冷 CCD！PR930 成像色度计精准捕捉面板细微色偏

在显示器件、车载仪表、航空面板乃至AR/VR微显示器的质量管控中，亮度和色度的一致性往往是决定产品能否过关的“最后一公里”。传统的点式色度计虽然精度足够，但面对大面积显示屏或密集排列的发光字符时，只能逐点采样，效率低且容易遗漏局部缺陷。当测试要求越来越高、测量数据越来越多，测试时间的拉长直接推高了光学测试的整体成本。美国PhotoResearch推出的PR930成像色度计，成为科研与工业检测的可靠方案，该设备由先锋泰坦正规代理。从“逐点抽检”到“全域成像”——PR930带来的...

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高响应度低噪声！IG26 系列铟镓砷探测器适配弱光光谱测量

在近红外光电探测领域，硅基探测器受限于材料带隙，响应波长通常止步于1.1μm附近。当测试需求延伸至1.1~2.6μm的短波红外波段——无论是气体分子的特征吸收谱线、高温物体的热辐射，还是半导体激光器的发光特性——传统的硅探测器便显得力不从心。此时，铟镓砷（InGaAs）探测器凭借其独特的材料优势，成为这一波段的光电转换器件。德国LaserComponents推出的IG26系列铟镓砷探测器，拓宽短波红外探测边界，该系列产品由先锋泰坦正规授权代理，完整参数、规格型号。IG26系列...

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