棱镜耦合测试仪的特性及应用领域介绍

棱镜耦合测试仪主要是用于电解质和聚合物膜的厚度、折射率和波导参数的快速测量。适用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉条纹产生的基础上通过改变角度产生干涉条纹（VAMFO-变角度单色条纹观测）的方法。对于厚膜折射率的测量，单色光被直接照射到被测样品上，这样，从薄膜表面反射回来的光的干涉小值就会发生变化，光的入射角也会发生变化。在这种技术中，薄膜厚度是由两个干涉小值的角的位置计算出来的。对于这种测量条件——薄膜具有两个或两个以上的干扰...

查看更多

ElFys黑硅光电探测器应用介绍

ElFys提供一系列高性能黑硅光电二极管。该光电探测器是通过采用表面纳米结构技术与原子层沉积涂层相结合，大大提高了光收集效率。在200nm至950nm范围内具有光响应，外量子效率≥96%（通过德国国家计量研究院PTB认证）。此光电探测器在紫外波段也同样具有*的量子效率，比普通的硅光电二极管高出两倍以上。黑硅表面与定制的原子层沉积涂层相结合，极大地提高了感应角度范围内的表面吸收率，具有*吸光度的超宽感应角度（95%@60°）ElFys提供SM和PD两大系列的标准产品，也可以针对...

查看更多

使用膜厚测量仪时，需要注意哪些事项？

膜厚测量仪属于一种常见的薄膜厚度测量仪器，在日常生活以及工业制造中都可以看见它的身影，膜厚主要对各种薄膜的厚度进行测定，测量速度快、精度高，在薄膜制造业有着很重要的应用。除此之外，它还具有作业位置灵活、数据输出、测量单位自动转换等特性，更是方便了人们的测量工作。这种仪器在行业当中的zhi名度很高，有着非常重要的作用，它可以测试金属以及其他各种材料的厚度，现如今被广泛的运用在化工，冶金、造船、石油、航天等领域当中，能给人们的生活带来很大的帮助。同时它在特点方面也非常突出，比如拥...

查看更多

光纤光谱仪的工作原理和特点分析

光纤光谱仪属于光谱仪一种常用类型，具有灵敏度高、操作简便、使用灵活、稳定性好、度高等优点。光纤光谱仪工作原理：光纤光谱仪结构紧凑，包括入射狭缝、准直物镜、光栅、成像反射镜、滤色片和阵列探测器，还包括数据采集系统和数据处理系统。光信号经入射狭缝投射到准直物镜上，将发散光变成准平行光反射到光栅上，色散后经成像反射镜将光谱呈在阵列接收器的接收面上，形成光谱谱面。光谱谱面既是单色光的序列排布(有次光谱影响)，让整个光谱中任一个微小谱带照射到相对应探测器的像元上，在此将光信号转换成电子...

查看更多

走过路过，激光M2因子分析仪的这些优点不能错过

激光M2因子分析仪其物理实质是将实际激光光束与标准基模高斯光束（TEM00）进行比较，反映实际激光光束与标准基模高斯光束（TEM00）的接近程度。仪器在工作过程中造束腰透镜和相机位置固定，通过两片反光镜在光学导轨上的自动移动，相机就可以的捕捉到从近场到远场不同位置的激光光斑，再通过软件进行数据分析与计算，从而得到M2值、发散角、束腰大小等参数。Spiricon采用了的Ultracal基线校准技术，从而可以有效去除环境噪声，得到准确的数据。它是一款符合ISO标准的M2测量设备，...

查看更多