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LED寿命测试系统

简要描述:可用于大批量LED测试,NIST溯源的校准数据。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-04-07
  • 访  问  量:1983
详细介绍

 

l         服务于大批量LED测试
l         人机工学设计的工作平台便于操作者监控测试过程
l         背照式CCD光谱仪具有高灵敏度
l         单次测量中保证光学和电学测试同时进行
l         快速、准确,全软件控制
l         NIST溯源的校准数据
l         测量参数包括辐射通量、光通量、峰值波长、质心波长、主波长、半峰值带宽、CIE光谱纯度、CIE色度、正向电压、正向电流、反向漏电流等



 


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