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CMOS平板探测器在X-Ray全自动盘料点数机应用
发布时间:2017-11-07   点击次数:1215次

一、基于X-Ray的盘料点数机和传统点料机区别

传统的点料方法:

1. 原理:

传统的盘装电子物料点数方法是将料盘上封装的物料一端拉出,连接到带有收料盘的装置上,经过不同方式的传感器,通过对封装物料相邻间差异的识别实现物料个体封装的识别和计数,从而实现物料点数工作。

2. 局限性:

(1)此种方式点数周期长,若提高收料装置的牵引速度,可以一定程度上提率,但对物料包装的要求较高,以确保料带能够承受较大的拉力,物料的包装成本需要提高,所以由于牵引速度的限制,制约了点料速度的提高;

(2)若封装空间里没有物料,此种方法会出现误判,从而影响点数度。

X-Ray点料方法:

利用X光大角度透视的原理,得到盘料的X-Ray图像,通过软件分析,得到计数结果,相比传统的点料方式,大大的提高了工作效率,节约人工成本。 

   

原理示意图

物料料盘

X射线图像和软件分析结果

二、我司可以提供的产品

 

针对X-Ray点料机应用,我们可以提供高灵敏度和高动态范围的CMOS平板探测器,满足您多方面的需求。


 CMOS平板探测器,我们提供多种感应面积供选择,有12cmx7cm; 15cmx12cm; 23cmx7cm; 23cmx15cm; 29cmx23cm.zui小像元尺寸75um。

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