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更新时间:2026-06-23
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德国 hp spectroscopy proXAS 集成式 NEXAFS 系统
proXAS 集成式 NEXAFS 系统特点
· 集成式台式 NEXAFS 光谱解决方案
· 无需申请并等待同步辐射机时
· 适用于地质、生物及材料研究的化学态分析
· 快速多色(多能)采集
同步辐射级别的谱图
· 能量范围 200 – 1200 eV
· 分辨本领高达 1900
· 高的表面灵敏度
· 可获取分子轨道、氧化态及配位数等信息
· 配备光谱分析软件套件
应用
· 有机材料分析,例如脂质膜、腐殖酸、聚合物薄膜等,尤其适用于碳 K 吸收边区域
· 对 C、N、O、Ca、K、Ti等元素进行表面敏感的化学分析

聚酰亚胺薄膜(厚度 t = 200 nm)在碳 K 吸收边处的 NEXAFS 光谱,由台式系统测量并对 60 个脉冲进行平均。插图:用于对比的同步辐射测量 NEXAFS 光谱。(数据由 IFNANO 的 K. Mann 博士提供)
采用高可靠性的激光等离子体产生的 XUV 光源。能量范围200–1200eV,重复频率25Hz。
产品指标
光源 | 无碎屑激光等离子体 XUV 光源 |
能量范围 | 200-1200eV / 1-6nm |
重复频率 | 25Hz |
光源稳定性 | ±1.5% |
光谱仪 | 像差校正的平场光谱仪 |
分辨能力 | 1900 |
样品室 | 转塔式样品位,支持多样品安装 |
尺寸 | 1.5m x 1.0m |
软件 | 集成化系统控制 多种光谱校准与数据分析功能 |