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2018-413
直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理,样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽,蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱,发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段,根据每个元素发射波长范围。通过光电管测量每个元素的*谱线,每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量,通过内部预制校正曲线可以测定含量,直接以百分比浓度显示。直读光谱仪的常见故障及解决方法:1、直读光谱仪排气不畅故障,氩气排气管路堵塞,火花室下部的弯头内有异物,氩气过滤器入口端有异物。处理办法:更换排气管,...
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2018-413
Vision系列LED显示屏校正系统是一个LED显示屏制造商和用户显著改善LED屏色彩和亮度均匀性的解决方案。该系统适用于多种场合校正要求:LED显示屏制造业领域的LED模块和屏幕校正;LED显示屏使用领域的LED室内和室外屏幕校正;LED显示屏的重新校准和性能的改善。VisionCAL—LED显示屏的色度和亮度逐点校正系统VisionCAL系统使用一架PM系列影像色度计测量LED模块或屏幕中每一颗LED的色度和亮度。在此测量基础上,VisionCAL应用软件计算优化每个LE...
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2018-413
2018-413
在半导体制造过程中,前期的全自动晶圆缺陷检测技术非常重要。因为在后端的生产流程中,通常会有多片晶圆粘合到一起,或者把晶圆粘合到不透明的材料上。因为半导体材料对可见光都是不透明的,所以很难用可见图像技术对粘合效果做表征或者检测粘合表面的污染。比如MEMS的分选就是典型的应用。MEMS是把微型机械部件、微型传感器、微电路集成到一个芯片上;为确保MEMS的运作,对其进行缺陷检测是至关重要的,但很多机械性能无法通过电气或功能测试来确定。因为这些缺陷往往位于基板上或器件与封盖晶圆之间连...
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2018-413
半导体器件和电路制造技术飞速发展,器件特征尺寸不断下降,而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺陷定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析(FA)而言,微光显微镜(EmissionMicroscope,EMMI)是一种相当有用且效率高的分析工具。微光显微镜其高灵敏度的侦测能力,可侦测到半导体组件中电子-电洞对再结合时所发射出来的光线,能侦测到的波长约在350nm~1100nm左右。它可以广泛的应用于侦测IC中各种组件缺陷所产生的漏电流,如:Gateoxided...
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