产品目录

服务中心

产品展示

您现在的位置:产品展示 >> 光度色度 >> LCD/OLED缺陷自动光学检测系统 >> OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

  • 型   号:
  • 价   格:

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 通道数量:32、64、128,可扩展到512 路;测量模式1:恒流、恒压、恒亮度,需根据客户需求选定

分享到:

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 

32 路系统                              64 路系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统 

项目

关键指标

备注

通道数量

32、64、128

可扩展到512 路

测量模式1

恒流、恒压、恒亮度

需根据客户需求选定

测量模式2

Pulse 电压、Pulse 电流

选配

电流输出

0.03uA~100mA,精度优于±1%

用户参照核心技术电流源选配

电压输出

饱和亮度

1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

标配

可根据客户需求定制

器件结构

底发光、顶发光、倒装、正装

需根据用户需求定制

测试盒/ 夹具

测试基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高温测试

RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试

选配

特殊条件

特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源等

选配、定制

软件平台

LabView

稳定、高效


留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

化工仪器网

推荐收藏该企业网站