X射线线阵列探测系统
英国Sens-Tech 公司是X 射线探测器和信号数据采集系统的专业开发商、供应商,其在X 射线线扫描成像和CT 领域拥有丰富且成功的经验和技术。Sens-Tech 的系统集成信号探测、模拟信号放大、数字信号输出于一体,有多种控制功能可选择,可方便的与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。
X射线线阵列探测系统
探测器有硅光电二管阵列和闪烁晶体组成。二管阵列可以是一维或者两维扫描方式, 由具体应用决定。选择探测器需要充分考虑光谱响应、电容、暗电流、灵敏度、探测面积以及串扰的影响,并选用与闪烁晶体的发射波段相匹配的探测器。并尽可能降低暗噪声,减小偏移量,获得的响应。同时,让各探测单元的探测面积和串扰达到*化。
闪烁晶体根据探测能量的不同,厚度和尺寸可以根据用户的要求进行定制。
Sens-Tech 公司目前主要提供四种X 射线数据采集产品:XDAS-V3 系列、XDAS-HE 系列、LINX 系列
Sens-Tech 标准产品的参数
| 材料 | 厚度 | 能量范围 | 每单位能量的信号输出 | 信号衰减时间 | 备注 | 
| Silicon  | 300μm  | 5-30keV  | zui高,直接转化 | 1us (非偏置)  | 光电二管直接探测,不使用闪烁晶体 | 
| Gadox(Tb)  | 0.31mm  | 20-100keV  | 近似CsI  | 2-3ms  | 荧光条,无法进行像素分割来防止串扰 | 
| Gadox A  | 0.2mm  | 低于Gadox(Tb)20%  | <1ms  |   | 
| Gadox B  | 0.4mm  | 高于Gadox(Tb)10%  | <1ms  |   | 
| CsI(Tl)  | 0.4-4mm  | 40-160keV  | 光转换效率zui高 | 2个不同的衰减时间, 微妙级 | 像素被分割成阵列,以减少串扰 | 
| CdWO4  | 2.5-30mm  | 150keV-9MeV  | 约为CsI的25%  | 20us  | 像素被分割成阵列,以减少串扰,价格昂贵 | 
| GOS  | 2.9mm  | 100-200keV  | 20% than CdWO4  | 3us  | 抗强辐射 |