光谱式亮度计可以准确、简易测量显示面板光源亮度及色度值。关键参数包含亮度，CIE xy，Yxy，u'/ v'，GAMMA校正，白平衡调整等。整体量测速度快，精度高，能满足智能手机、电视机、微型显示器、AR / VR(扩增实境/虚拟实境)装置、智慧穿戴装置等新型设备对各种光源测量需求，如LCD, LED BLU, OLED, MiniLED, microLED等。

PR-655便携式分光辐射亮度计可很容易的实现与外界通讯。它配备有USB接口和蓝牙无线接口（可选）。它提供有文本式远程模式语法和一个驱动器用于模拟RS232接口从而实现自定义编程来完成特定任务或进入ATE环境。如果您需要PHOTO RESEARCH公司也可提供传统的RS232接口。

光谱式亮度计容易实现与外界通讯，它配备有USB接口和RS232接口以及加固的附件可增加仪器在恶劣环境中的使用安全。针对产线测试环境的不同（如工作距离、测试区域和系统控制接口等），A-TAKT™系列提供有不同配置，包括光阑、镜头的定制（满足更多的亮度测试动态范围以及不同工作距离、光斑尺寸的测试需求），易于开发的SDK包可根据不同用户的ATE系统进行定制等。

此款设备具备了照度连续可调、高低色温连续可调的功能，高均匀性避免了定位带来的误差。

PT-038-PLS 是一款可以提供均匀稳定亮度的积分球标准光源，可用于显示屏企业、质检及计量机构、科研院所对亮度计的校正、作实验用标准源等，具有亮度均匀性好、亮度调节范围大、稳定度高、便携等优点。

Spectra-UT 超光谱校准光源提供光谱匹配分辨率。

简单均匀的亮度和辐射度光源，用于成像和非成像设备的测试和校准

高均匀的光谱辐射光源，可精确再现几乎所有从390 nm到1000 nm的光谱

LED 面板光源是一款可用于相机模组或传感器产线校准的光源模拟器。

半导体膜厚测试仪-OPTM 测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）

LMI系列成像亮度计成像亮度计的分辨率从200万像素到2000万像素可选，可满足不同发光样品的测试要求。 多次曝光和ND中性滤光片的应用，可实现1000000：1的高对比度； 用户可通过ROI功能获取局部图像的数据信息，排除非目标区域的干扰。

CMI系列成像亮度色度计使用低至室温-45度的半导体制冷技术，能使测试的噪声与温漂降至 低，在低至0.0001cd/m亮度的弱信号都可以可靠的进行分析。使用USB带宽调制以及搭载了128M DDR缓冲内存，即使低配置的运行环境下也可快速读出。高动态范围的曝光以及ND滤镜实现宽广的测量范围，以及高达1000000:1对比度的实现。