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FPD在线光谱式测试应用特点
发布时间:2018-04-17   点击次数:595次

光谱式测量为CCFL、LED背光LCD及OLED等平板显示技术提供了zui高精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。Photo Research的A-TAKT™系列光谱式辐射度计弥补了这一不足,实现了光谱式精度的实时产线测试。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL,针对FPD产线测试不同测试应用。具有如下总的特点:

特点优势
采用制冷型CCD探测器有效抑制暗噪声及杂散光;可调取、使用测试对象的图像,不需通过目镜观测;保持产线测试环境中的测试稳定性
高灵敏度,高速快速测试弱光信号
多孔径光阑可选(1.0°,1.25°,1.50°,0.50°);可定制多种亮度测试动态范围可选,满足不同光斑尺寸等测试需求
多光谱带宽可选(2,5,8nm)针对不同带宽光源具有更好的度
物镜(定焦50mm到变焦75mm的镜头可供选择);可定制方便满足客户不同工作距离、光斑尺寸等测试需求
“EasyProfile”技术针对不同测试对象的自分析技术,使设备在确保科学级的准确性和度前提下实现zui快测试速度
易于开发的SDK软件包;可定制与产线测试需求实现zui优化的整合
RS232和USB接口以及加固的附件;增加仪器在恶劣环境中的使用安全
自带1/4-20 SAE螺纹孔便于安装、固定

 

1、V-7HS是三者中灵敏度zui高、测试速度zui快的机型,可在不影响测试度和重复测试精度的前提下,zui短时间内实现zui大数量的产品测试——毫秒时间内实现低亮度测试,在仅250ms的测试时间内实现0.5cd/m2的微弱亮度测试(测试LED背光LCD);几秒钟内实现完整的灰度等级、Gamma和色度测试(取决于亮度等级和测试数量)等。

V-7HS:高精度,快速测量,针对于低亮测试应用

2、V-7WD则提供了高速测量的解决方案,针对高亮背光模组、LED模组等高度和重复精度的zui优化测试。具备更宽的亮度测试范围:0.002-60000 cd/m2(如测试白光LED),近乎实时的快速、高、高重复性光谱辐射度计。

V-7WD:快速,高光谱分辨率,适用于高亮发光源测试

3、而V-6AQL则专为简洁的工业检测量身定制,针对关键环节的测量,如AQL、IQC及OQC等提供的解决方案。一方面具有更低成本,另一方面光谱式设计保证度和重复精度,满足或优于客户的生产需求。

V-6AQL:经济、便携的解决方案,适用于QC/QA测试

4、灵活的定制——由于产线测试环境的不同(如工作距离、测试区域和系统控制接口等),如上述表格,A-TAKT™系列提供有不同配置,包括镜头的定制(满足不同工作距离、光斑尺寸的测试需求),易于开发的SDK包以更快捷、轻松集成到用户的ATE系统, 针对不同测试对象的“EasyProfile”自分析技术等。

规格参数V-7HSV-7WDV-6AQL
探测器512512128
制冷探测器
标准孔径1.25°2.0°1.0°
物镜定焦:50mm;
变焦:75mm(定制)
光谱带宽2nm8nm8nm
亮度范围
(白光LED测试)
0.001-600 cd/m20.002-60000 cd/m20.6-80000 cd/m2
测试时间
(白光LED)
250ms@0.5cd/m260ms@10,000cd/m270ms@10,000cd/m2
测试时间
(标准A光源)
450ms@0.5cd/m275ms@10,000cd/m286ms@10,000cd/m2
亮度度
(标准A光源)
±2%@0.005 cd/m2±2%@0.01 cd/m2±2%@0.5 cd/m2
亮度范围
(标准A光源)
0.0005-2,900 cd/m20.001-30,000 cd/m20.3-40,000 cd/m2
尺寸(mm)270×170×188270×170×188192×170×117
重量(kg)4.334.332.14

 

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